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Colli di bottiglia tecnici chiave delle macchine semiautomatiche per l'ammorbidimento dei wafer
2025-12-181047

  1. Dilemma nella manipolazione dei wafer ultrathin: Durante l'elaborazione di wafer ultrathin sotto i 50μm, le macchine semiautomatiche per l'ammorbidimento dei wafer si trovano di fronte a una drastica diminuzione della rigidità del wafer. I metodi tradizionali di bloccaggio sotto vuoto faticano a bilanciare i requisiti di fissaggio sicuro e prevenzione dei danni. Questo si traduce in un rendimento di soli circa l'85% per l'ammorbidimento di wafer ultrathin da 12 pollici, con frequenti problemi di curvatura e scheggiatura, diventando un punto dolente chiave che limita l'applicazione dell'attrezzatura.
  2. Conflitto tra precisione e controllo dello stress: Durante il processo di rettifica meccanica delle macchine semiautomatiche per l'ammorbidimento dei wafer, il disallineamento dei coefficienti di dilatazione termica tra la ruota di rettifica e il wafer induce facilmente una deformazione termica non uniforme, portando a una variazione totale di spessore (TTV) superiore a 2μm. Nel frattempo, per materiali fragili come SiC e GaN, l'attrezzatura non può controllare con precisione la forza di rettifica, che tende a causare scheggiatura dei bordi e fessure sottosuperficiali, con la profondità dello strato danneggiato che raggiunge i 2–10μm.
  3. Limitazione nell'adattabilità ai materiali eterogenei: Nelle scenari di packaging 3D IC, esiste una differenza di durezza significativa tra lo strato di interconnessione in rame TSV e il substrato di silicio (2,5GPa vs 12GPa). La modalità di rettifica singola delle macchine semiautomatiche per l'ammorbidimento dei wafer non può adattarsi a tali differenze di materiali, con conseguente fluttuazione della forza di rettifica che compromette gravemente la qualità della superficie del wafer. Le speciali proprietà fisiche dei semiconduttori a larga banda proibita exacerbano ulteriormente la difficoltà di adattamento dell'attrezzatura.
  4. Collo di bottiglia di efficienza dei processi semiautomatici: Le macchine semiautomatiche per l'ammorbidimento dei wafer esistenti dipendono dal caricamento e scaricamento assistiti manualmente, nonché dalla regolazione manuale dei parametri di processo. Questo non solo rende il ciclo di ammorbidimento di un singolo wafer 30% più lungo rispetto a quello delle attrezzature completamente automatiche, ma causa anche una scarsa coerenza di lotto a causa delle differenze nelle operazioni manuali. L'alta dipendenza dall'esperienza degli operatori limita il miglioramento della produttività e l'applicazione su larga scala.

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